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Agilent EEsof EDA
通信機器や関連デバイス設計のための、高周波回路/システム、およびモデリングのためのソリューションを提供しています。

トピックス　

旭化成エレクトロニクス様にて1/fノイズ測定効率が500%アップしました！
低ノイズプロセス開発を目的に、高精度かつ安定に1/fノイズを測定するAgilent製最新1/fノイズシステムを導入いただきました。

IC-CAPカスタムツールのご紹介
IC-CAPはモデラーにとって有益なツールですが、残念ながら現バージョンではモデラーの仕事を全て網羅していません。そこで日本のコンサルティング・グループがIC-CAPの穴埋めをするカスタムツールを開発しています。

最新の1/fノイズ測定システム カタログをアップしました
2010年3月にリリースした最新版1/fノイズ測定システムの仕様です。従来に比べて約10倍の高速ノイズ測定が実現できます。

HiSIM2.4.1/HiSIM-HV対応開始
　

RF統計解析ソリューションを新規開発
RF多点測定＋データマイニング手法 or プロセスベース統計手法を用いた統計解析モデル構築トータルソリューションを発表。　

パラメータ抽出サービス提供開始　
アジレント・テクノロジー(株)では貴社デバイスのパラメータ抽出を高精度かつ迅速に提供するためのサービスとして「パラメータ抽出サービス」の提供を開始しました。　紹介資料

新 パッシブ素子モデリングソフトウェア
IC-CAP上で容易にSpiral-IND等のモデリングが可能になります。スケーラブルモデルにも対応するモデリングソフトウェアをリリースしました。

新測定環境を構築
300mmオンウエハ・デバイス測定環境をアジレント・テクノロジー八王子サイトに構築しました！