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Agilent EEsof EDA
通信機器や関連デバイス設計のための、高周波回路/システム、およびモデリングのためのソリューションを提供しています。

トピックス (2007.3)　

新1/f測定・抽出システム
面内自動測定に対応する、新1/fシステムをリリースしました。

新 パッシブ素子モデリングソフトウェア
ICCAP上で容易にSpiral-IND等のモデリングが可能になります。スケーラブルモデルにも対応するモデリングソフトウェアをリリースしました。

パラメータ抽出サービス提供開始　
アジレント・テクノロジー(株)では貴社デバイスのパラメータ抽出を高精度かつ迅速に提供するためのサービスとして「パラメータ抽出サービス」の提供を開始しました。　紹介資料

弊社八王子サイトに、新たに300mmウェハ、110GHz測定システムを稼動しました。

RF統計解析ソリューションを新規開発
RF多点測定、データマイニングを用いた統計解析モデル構築トータルソリューションを、AMF2006で発表しました。　セミナ資料

また、その内容が「日系BP EDA Online」にてプレスリリースされました。　プレスリリース記事

HICUMスケーリングモデリング
HICUMを用いたBJTのモデリングソリューションを、アジレント・モデリングセミナ2005で発表しました。　セミナ資料

新測定環境を構築
カスケード・マイクロテック株式会社様の全面協力のもとオンウエハ・デバイス測定環境をアジレント・テクノロジー八王子サイトに構築しました！