アジレント・テクノロジーのホームページ アジレント・テクノロジーのホームページ
  お問い合わせ   |    ログイン   |    インターナショナル    |    Worldwide Home  
Quick Search Agilentサイトを検索する
ホーム > 電子計測 > テクニカルデザイン・コンサルティング
テクニカルデザイン・コンサルティング
テクニカルデザイン・コンサルティング・グループ・サービス概要
RF-IC設計、RF-Module設計、Top Down設計/Bottom up 検証でKEYとなるモデリング / 測定 / シミュレーション / デザインキット構築(PDK)など設計環境構築に必要なトータルなコンサルティング・ソリューションを提供していきます。

弊社測定器EDAツールと、長年にわたり培ってきた高周波ノウハウをベースに構築されるコンサルティングソリューションをご提供させていただくことにより、御社の高速ディジタル・RF-ICビジネスに貢献させて頂ければと考えております。

提供ソリューション

 

テクニカルデザイン・コンサルティング・グループ紹介資料

 

Hit Counter

お問い合わせ窓口 お問い合わせ窓口

関連情報


各ソリューションの見積り、詳細については、御社担当営業または、お問い合わせ窓口までご連絡ください。

Agilent EEsof EDA
通信機器や関連デバイス設計のための、高周波回路/システム、およびモデリングのためのソリューションを提供しています。

トピックス (2007.3) 

新1/f測定・抽出システム
面内自動測定に対応する、新1/fシステムをリリースしました。

新 パッシブ素子モデリングソフトウェア
ICCAP上で容易にSpiral-IND等のモデリングが可能になります。スケーラブルモデルにも対応するモデリングソフトウェアをリリースしました。

パラメータ抽出サービス提供開始 
アジレント・テクノロジー(株)では貴社デバイスのパラメータ抽出を高精度かつ迅速に提供するためのサービスとして「パラメータ抽出サービス」の提供を開始しました
。 紹介資料

弊社八王子サイトに、新たに300mmウェハ、110GHz測定システムを稼動しました。

RF統計解析ソリューションを新規開発
RF多点測定、データマイニングを用いた統計解析モデル構築トータルソリューションを、AMF2006で発表しました。 セミナ資料

また、その内容が「日系BP EDA Online」にてプレスリリースされました。 プレスリリース記事

HICUMスケーリングモデリング
HICUMを用いたBJTのモデリングソリューション
を、アジレント・モデリングセミナ2005で発表しました。 セミナ資料

新測定環境を構築
カスケード・マイクロテック株式会社様の全面協力のもとオンウエハ・デバイス測定環境をアジレント・テクノロジー八王子サイトに構築しました!

 


本サイトの使用条件 プライバシー