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Agilent EEsof EDA
通信機器や関連デバイス設計のための、高周波回路/システム、およびモデリングのためのソリューションを提供しています。

トピックス

HiSIM2.4.1/HiSIM-HV対応開始
　

RF統計解析ソリューションを新規開発
RF多点測定＋データマイニング手法 or プロセスベース統計手法を用いた統計解析モデル構築トータルソリューションを発表。　

パラメータ抽出サービス提供開始　
アジレント・テクノロジー(株)では貴社デバイスのパラメータ抽出を高精度かつ迅速に提供するためのサービスとして「パラメータ抽出サービス」の提供を開始しました。　紹介資料

新 パッシブ素子モデリングソフトウェア
IC-CAP上で容易にSpiral-IND等のモデリングが可能になります。スケーラブルモデルにも対応するモデリングソフトウェアをリリースしました。

新測定環境を構築
300mmオンウエハ・デバイス測定環境をアジレント・テクノロジー八王子サイトに構築しました！

新1/f測定・抽出システム
面内自動測定に対応する、新1/fシステムをリリースしました。